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定义超导纳米线单光子探测器的性能
定义超导纳米线单光子探测器的性能 2021,当光在单光子水平上被检测到时，如何定义测量探测器的性能？当探测器能接近100%的量子效率时，这一点就更为重要，超导纳米线单光子探测（SNSPD）就是如此。
在本次网络研讨会上，ID Quantique研究与技术副总裁费利克斯·布西埃（Félix Bussières）介绍了探测器性能表征的主要方面。更具体地说，是用于表征SNSP探测器的技术。他解释了ID Quantique是如何全面描述探测器性能的，以及为什么这对您的研究和增强您的实验结果很重要，以及如何根据您的应用需求选择指标以达到特定的性能要求。
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网络研讨会：NAD(P)H 和 FAD同时进行FLIM代谢成像
Metabolic Imaging by Simultaneous FLIM of
石墨烯材料的拉曼光谱研究
Semrock滤光片如何提升超分辨光学系统质量
近些年来，一些诸如TIRF（全内角反射荧光显微镜，total internal reflection fluorescence microscope）和超高分辨率显微镜的技术亟须二向色镜具有更高的平整度，来减少相差并简化校准的难度与步骤。即使是有轻微弯曲的二向色镜都有会影响光学系统中的对焦，导致焦平面的位移以及图像质量的下降。Semrock全新推出的BrightLine™激光二向色镜比市面上所有的二向色镜都更为平坦，在保证各种光学性能的同时，平整度理想可以达到λ/10，可以为最为苛刻的光学系统提供更高的光通量以及更好的信号采集。
显微镜中的二向色镜主要用于对于不同波长光的分束。当使用二向色镜时，它不仅仅会影响光束的传播方向，还会影响它的波前。我们制作滤光片的时候会镀上薄膜来得到需要的过滤波段。涂层产生的应力会导致基材的轻微弯曲或者曲率的不同。二向色镜的弯曲对于反射的影响比透射大得多。对于透过二向色镜的光束而言，弯曲仅仅会导致轻微的色散，导致光束有可以忽略的像差。这也就解释了为什么传统的荧光显微镜为什么不重视平整度这个参数，因为发射信号是透过二向色镜的。二向色镜的轻微弯曲虽然在传统的光学系统上不会造成很明显的影响，但是会对更先进的显微系统的成像造成不可忽视的负面影响。这也就促使着滤光片厂家研发出更加适合先进显微系统的平整滤光片。
