Excipolar Spinon

Excipolar Spinon瞬态吸收光谱仪  
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高分辨、多维度、可靠且易用

　　高精度瞬态吸收光谱系统为微纳材料、体材料、溶液等的瞬态吸收特性提供了强大的测试平台。飞秒级时间分辨率精确表征不同时刻的吸收特性，宽波段响应范围表征不同波长处的吸收能力和变化，纳秒级的时间窗口表征大时间尺度范围内的吸收变化特点，微米级空间分辨率精确表征样品的空间吸收差异。可根据客户需求定制化产品，比如扩展低温、光电流、低温磁场等功能。Excipolar Spinon系统是一款高分辨、高精度、兼容单色/多色、稳定而高可靠性的瞬态光谱检测系统，能够全面满足科研和工业检测领域的广泛需求。

高分辨率、高精度

　　• 独特的光学设计实现了高时间、空间、光谱分辨率。

　　• 高精度光学延迟线在保证光学稳定性的同时，能够实现高达3 fs的时间精度。

　　• 高分辨率的双光谱仪配置，高信噪比探测。

　　• 可搭载显微模块，达到μm级空间分辨率。

更高效

　　• 高速光谱仪采集系统，可达最高2500帧/s全局采样速率。

　　• 双光谱仪配置带光谱参考校准功能，保证测试信号的稳定性。

　　• 吸收测试范围350-1650nm，一次采集所有光谱范围数据。

更多功能与扩展性

　　• 可进行单色或双色泵浦-探测或瞬态吸收测试。

　　• 透反射激发-收集设计，可实现透射/反射瞬态吸收光谱。

　　• 支持宽场成像、载流子迁移、荧光上转换、光克尔以及纳秒瞬态吸收等拓展

　　• 结合低温、电学、磁学可进行原位时间分辨光谱表征。

　　• 可结合本公司其他光谱产品进行多光谱联合测试，扩展显微拉曼、荧光、角分辨光谱等功能，实现原位稳态与瞬态光谱。

　　• 体材料、薄膜、微纳米材料，纳米颗粒及溶液的瞬态吸收过程。

　　• 半导体材料的载流子动力学过程表征，时域热性能表征等。

　　CrPS₄纳米片的飞秒瞬态吸收图。颜色为ΔOD（mOD）。时间零点之后（>0 ps）在740–940 nm全谱吸光度均为正值。零点附近出现一条窄而强的正信号脊，随后演化为宽谱的正吸收背景，强度随时间缓慢衰减并持续至纳秒时间尺度。

　　全正号表明动力学以激发态吸收/自由载流子吸收为主而非基态漂白。超快强峰（<1–2 ps）对应热载流子或高能态的瞬时ESA，快速衰减；其后10–100 ps的衰减体现载流子冷却与态间弛豫；纳秒级长尾暗示陷阱/极化子或三重态等长寿命物种参与。轻微红移与冷却及带隙重整化恢复一致。

　　在515 nm选择性激发受体条件下，微区CsPbBr3单晶可见波段的瞬态动力学。

　　在短波区域出现明显负信号区，为带边基态漂白；其上沿随时间呈红移/展宽趋势，指示热载流子冷却与带隙重整化的恢复。早期（<1–2 ps）带边附近叠加弱正信号，属于瞬时激发态吸收，快速衰减。随后在几十到数百皮秒内漂白缓慢回升但持续到纳秒尺度，表明载流子复合较慢/可能伴随陷阱释放；中长波一侧（~620–660 nm）可见缓慢衰减的宽弱正吸收，对应更高能级或电荷/声子相关的ESA分量。