什么是扫描电子显微镜（SEM）？
扫描电子显微镜（SEM）利用聚焦电子束扫描样品表面，实现超高放大倍数（可达30万倍以上）和立体感极强的3D成像，同时通过X射线能谱分析揭示元素成分。尽管成本高昂、操作复杂，SEM在法医学、材料科学、半导体检测等领域已成为不可或缺的工具，其工作原理类似“电子配钥匙”，通过逐点扫描生成高分辨率图像。
什么是角分辨偏振拉曼光谱？
角分辨偏振拉曼光谱（ARPR）通过连续记录拉曼强度随样品旋转角度的变化，实现对晶体对称性、晶轴方向和层间扭转角的定量解析。相比传统偏振拉曼仅采集离散点，ARPR能完整拟合曲线，精准标定面内晶轴、无损测量二维异质结扭转角，并归属低对称声子模式。该技术适用于黑磷、SnSe等各向异性材料，具备微区、无损、定量等优势，但测试耗时且对光路校准要求高。作为从定性到定量的升级手段，ARPR正在成为二维材料研究中的标准表征方案。
什么是扫描电子显微镜（SEM）？
扫描电子显微镜（SEM）利用电子束扫描样品表面，实现超高分辨率（30万倍以上）和立体感成像，并能分析元素成分。尽管价格昂贵、操作复杂，但SEM已成为半导体检测、生物研究等领域不可或缺的工具，从法医破案到工业质检，展现出光学显微镜无法替代的价值。
